Получение, структурные и электрофизические ИССЛЕДОВАНИЯ керамических образцов ТВЕРДЫХ РАСТВОРОВ СО СТРУКТУРОЙ ПЕРОВСКИТА, ОБРАЗУЮЩИХСЯ В СИСТЕМЕ (1-x)(0,35BiScO3·0,65PbTiO3)·x(0,68PbMg1/3Nb2/3O3·0,32PbTiO3)

Рисунок 1 - Зависимости ɛ(T), tgδ(T) и ТТСД(Т) образцов (1-2x)BS∙(2-y)xPTyx PMN

измерения ɛ и tgδ выполнены на частоте ƒ=25 Гц (кривые 1), 120 Гц (2), 1 кГц (3), 10 кГц (4), 100 кГц (5), 1000 кГц (6)