Вернуться к статье
Исследование металлических наноструктур методом мандельштам-бриллюэновской спектроскопии
Таблица 1 - Толщины (t) и среднеквадратичная шероховатость (σ) в нанометрах слоёв наноструктур Pt/Co, полученных из обработки рефлектограмм
№ | Структура | Ta | Pt | CoPt | Co | Ta | Ta2O3 | ||||||
t, нм | σ, нм | t, нм | σ, нм | t, нм | σ, нм | t, нм | σ, нм | t, нм | σ, нм | t, нм | σ, нм | ||
S1 | Si/Ta(2)/Pt(3)/ Co(1.2)/Ta(2) | 2 | 0,2 | 2,7 | 0,4 | - | - | 1,1 | 0,9 | 1,0 | 0,1 | 2,6 | 0,3 |
S2 | Si/Ta(2)/Pt(2.4)/Co50Pt50 (1.2)/ Co(0.6) /Ta(2) | 2,0 | 0,5 | 2,8 | 0,3 | 1,1 | 0,35 | 1,0 | 0,2 | 1,0 | 0,3 | 2,6 | 0,3 |
S3 | Ta(2)/Pt(3)/Pt75Co25(0,4)/Pt50Co50(0,4)/Pt25Co75(0,4)/Co(1,2)/Ta(2) | 2 | 0,4 | 3,1 | 0,4 | 0,4 0,2 0,2 | 0 0,2 0,2 | 1,2 | 0,4 | 2 | 0,4 | 3,1 | 0,3 |