Исследование металлических наноструктур методом мандельштам-бриллюэновской спектроскопии

Научная статья
DOI:
https://doi.org/10.60797/IRJ.2025.160s.21
Выпуск: № 10 (160) S, 2025
Предложена:
07.08.2025
Принята:
08.08.2025
Опубликована:
24.10.2025
84
0
XML
PDF

Аннотация

В работе с помощью Мандельштам-Бриллюэновской спектроскопии сделана оценка и изучена эволюция антисимметричного обменного взаимодействия Дзялошинского-Мории в тонкопленочных наноструктурах Pt/Co с промежуточным аморфным сплавом Pt1-хCoх. Максимальная величина ВДМ -0.6 мДж/м2 получена для трехслойной структуры со сплавами Pt1-хCoх разного состава. Получено, что, варьируя толщину, состав слоёв и типа интерфейсов тонкопленочной наноструктуры, можно эффективно моделировать энергию взаимодействия Дзялошинского-Мории. Таким образом, контроль качества и типов интерфейсов позволяет эффективно управлять спин-орбитально связанными эффектами в таких структурах. Кроме того, показано, что величина взаимодействия Дзялошинского-Мории для трехслойной наноструктуры слабо зависит от температуры, что согласуется с поведением намагниченности Со.

1. Введение

Необходимость совершенствования средств хранения и обработки информации вызывается непрерывно растущим потоком информации (Big Data), цифровизацией всех сфер деятельности человека (IoT), нехваткой энергоресурсов и конкурентным спросом на скорость обработки данных. Исследования на стыке топологического магнетизма и спинтроники открывают возможности создания сверхбыстрых наноразмерных устройств передачи и обработки данных, функционирующих на СВЧ и ТГц частотах

,
,
. Среди множества магнитных материалов тонкопленочные металлические наноструктуры обладают уникальными магнитными, спин-транспортными свойствами и технологическими характеристиками
,
. Например, с наличием сильного спин-орбитального эффекта, антисимметричного взаимодействия Дзялошинского-Мории (ВДМ)
в многослойных наноструктурах типа тяжелый металл/ферромагнетик связано спонтанное, либо параметрическое зарождение киральных спиновых текстур — скирмионов
,
,
,
, которые являются альтернативными перспективными носителями информации и могут быть использованы для создания новых элементов памяти и спинтронных устройств. Однако есть сложности: например, до сих пор неясны механизмы передвижения и стабильной фиксации скирмионов, нет четкого понимания механизмов интерфейсного ВДМ и роли интерфейсов в таких нано-структурах, какие материалы или структуры являются оптимальными для практической реализации скирмионики и т. д.

В данной работе проведено исследование эволюции ВДМ в многослойных тонкопленочных наноструктурах Pt/Co разной конфигурации, в т. ч. с промежуточным аморфным сплавом Pt50Co50 и без. В последнем случае структурная инверсионная симметрия нарушается по толщине исключительно за счет заданного градиента состава внутри пленки. Таким образом, в таких «метаматериалах» контролируемый состав позволяет манипулировать распределением векторов ВДМ в трех измерениях, что важно для проектирования устройств спинтроники на основе скирмионов.

2. Методы исследования и образцы

Наноструктуры Pt/Co в виде многослойных поликристаллических пленок изготавливались методом магнетронного распыления при постоянном токе в среде чистого Ar при давлении 5∙10−9 Торр при комнатной температуре. Металлы осаждались на полированные пластины оксидированного кремния. Для всех структур использовался буферный слой Та на подложке для улучшения кристалличности слоя Pt и крышка из Та для защиты от окисления. После синтеза образцы отжигались в вакууме при 300°С в течение 1 часа. Магнитные параметры оценивались на вибрационном магнетометре Lakeshore 7400.

Малоугловая рентгеновская дифракция образцов наноструктур Co/Pt

Рисунок 1 - Малоугловая рентгеновская дифракция образцов наноструктур Co/Pt

Примечание: вертикальной линией указан пик от держателя образцов

Качество слоистой структуры, толщины слоёв и степень несовершенства межслойных границ были оценены на основании данных малоугловой рентгеновской дифракции на дифрактометре PANalytical Empyrean Series 2 в Cu излучении с длиной волны 1,54 Å в геометрии параллельного пучка (рисунок 1). Обработку рефлектограмм проводили с помощью коммерческой программы PANalytical X’Pert Reflectivity. На первичном пучке использовали параболическое зеркало на основе сверхрешетки W/Si, обеспечивающее, помимо формирования параллельного пучка, подавление линии Cu Kβ излучения. На вторичном пучке использовали плоскопараллельный коллиматор с плоским графитовым монохроматором и коллимирующей щелью. Из Таблицы 1 видно, что фактические толщины практически совпадают с номинальными. Среднеквадратичная шероховатость также везде меньше толщины слоя структуры. Из анализа полученных рентгеноструктурных данных был сделан вывод, что для всех образцов сформированы сплошные слои Ta, Pt, и Co. Кроме того, на поверхности верхнего слоя наноструктур (крышки из Ta) образуется достаточно толстый оксидный слой Ta2O5 толщиной порядка 2,5 нм с шероховатостью порядка 0,2–0,3 нм.

Таблица 1 - Толщины (t) и среднеквадратичная шероховатость (σ) в нанометрах слоёв наноструктур Pt/Co, полученных из обработки рефлектограмм

Структура

Ta

Pt

CoPt

Co

Ta

Ta2O3

t, нм

σ, нм

t, нм

σ, нм

t, нм

σ, нм

t, нм

σ, нм

t, нм

σ, нм

t, нм

σ, нм

S1

Si/Ta(2)/Pt(3)/ Co(1.2)/Ta(2)

2

0,2

2,7

0,4

-

-

1,1

0,9

1,0

0,1

2,6

0,3

S2

Si/Ta(2)/Pt(2.4)/Co50Pt50 (1.2)/ Co(0.6) /Ta(2)

2,0

0,5

2,8

0,3

1,1

0,35

1,0

0,2

1,0

0,3

2,6

0,3

S3

Ta(2)/Pt(3)/Pt75Co25(0,4)/Pt50Co50(0,4)/Pt25Co75(0,4)/Co(1,2)/Ta(2)

2

0,4

3,1

0,4

0,4

0,2

0,2

0

0,2

0,2

1,2

0,4

2

0,4

3,1

0,3

Для определения величины ВДМ используется несколько методов

. В данной работе был использован спин-волновой метод, связанный с Мандельштам-Бриллюэновской спектроскопией рассеянного света (МБРС)
,
. МБРС представляет собой низкоэнергетические процессы рассеяния света на термодинамических флуктуациях плотности или намагниченности среды с изменением частоты падающего фотона. Рассеяние может происходить, как на колебаниях решетки — фононах, так и на магнонах, или их коллективизированных состояниях — спиновых волнах. В результате процессов рассеяния фотон может поглотить (Стоксовое состояние, fS) или испустить (анти-Стоксовое состояние, fAS) квант возбуждения и таким образом изменить энергию (частоту) и направление своего движения. По аналогии с комбинационным (Рамановским) рассеянием в спектрах МБРС эти процессы проявляются в виде максимумов, симметрично сдвинутых в положительную и отрицательную область по частоте относительно основного Релеевского пика. Фиксируя разницу частот пиков Δf = fS - fAS (частотный сдвиг) рассеянных фотонов, можно понять, какая частота (энергия) соответствовала поглощённым или излученным квазичастицам: фононам или магнонам. Таким образом, используя МБРС, можно изучать различные термические или параметрически возбужденные состояния в магнитных средах. Положение Стоксовых и анти-Стоксовых пиков в спектрах МБРС многослойных наноструктур не всегда симметрично. Частотный сдвиг ∆ʄ пиков определяется вкладами поверхностной анизотропии ферромагнитных слоёв, дипольного взаимодействия и энергией антисимметричного обменного взаимодействия Дзялшинского-Мория (ВДМ)
. Согласно
,
, зная частотный сдвиг Δf и намагниченность насыщения Ms, константу ВДМ образца можно выразить из дисперсионного соотношения
:

(1)

где γ = 1,9∙1011 Гц/Тл — гиромагнитное соотношение для кобальта

, k — волновой вектор.

Исследования МБРС производились с помощью шестипроходного интерферометра Фабри-Перо (Scientific Instruments) TFP-I. В качестве источника света использовался одномодовый твердотельный лазер Excelsior (Spectra Physics) EXLSR-532-200-CDRH с длинной волны 532 нм и шириной линии 8 МГц. Диаметр сфокусированного на поверхности образца пятна составлял примерно 25 мкм. Мощность падающего лазерного излучения 20 мВт недостаточна для термического нагрева и изменения свойств измеряемого образца. Важно отметить, что эффективная глубина проникновения лазерного луча составляет до 100 нм, что превышает суммарную толщину слоев стандартно исследуемых металлических наноструктур. Таким образом, данные, полученные методом МБРС, обусловлены суммарным вкладом всех слоев структуры.

Измерения МБРС в наноструктурах проводились в геометрии Даймона-Эшбаха (рисунок 2) [13, 15] и конфигурация обратного рассеяния света, т.е. постоянное внешнее поле H0 до 1.2 Т направлено в плоскости пленки взаимно перпендикулярно волновому вектору спиновых волн и плоскости падения света. Измерения проводились в СВЧ-интервале от −40 ГГц до +40 ГГц c шагом 125 MHz при комнатной температуре и угле падения лазерного луча = 30°, что соответствует проекции волнового вектора света = 11,8 мкм−1.

Геометрия эксперимента МБРС (схема Даймона-Эшбаха) для наблюдения магнитостатических спиновых волн

Рисунок 2 - Геометрия эксперимента МБРС (схема Даймона-Эшбаха) для наблюдения магнитостатических спиновых волн

3. Основные результаты

В ходе экспериментов МБРС были измерены спектры МСВ для трёх образцов наноструктур со сплавом S1-S3 (см. таблицу 1). Спектры МБРС для наноструктур, измеренные в поле, равном полю насыщения намагниченности плёнок, представлены на рисунке 3. Так как ширина линии резонансных пиков в спектрах МБРС пропорциональна ширине линии ферромагнитного резонанса, то достаточно узкие симметричные линии пиков для наноструктур свидетельствуют о высокой структурной и магнитной однородности образцов наноструктур со сплавом Pt50Co50, сравнимой с образцом S1 с монослоём Со. Это позволяет рассматривать полученные образцы как объекты для дальнейших исследований с помощью методов СВЧ спектроскопии. 

Спектры МБРС для образцов S1 (а), S2 (б) и S3 (в) в поле насыщения

Рисунок 3 - Спектры МБРС для образцов S1 (а), S2 (б) и S3 (в) в поле насыщения

Примечание: красная и синяя кривая отвечают разной полярности внешнего магнитного поля

Полученные экспериментальные кривые МБРС были обработаны с помощью функции Лоренца для определения параметров максимумов. Далее согласно выражению (1), и, используя данные по намагниченности и толщине структур, были рассчитаны значения постоянной ВДМ для всех образцов. Отметим, что при изменении направления внешнего магнитного поля симметрия спектров МБРС меняется зеркально. При этом форма пиков и частотный сдвиг сохраняются, но незначительно варьируется величина сдвига (рисунок 3).

Максимальная величина энергии ВДМ была получена для структуры с тремя амфорными сплавами PtхCoх разного состава общей толщиной 1,2 нм, помещенных между отдельными слоями Pt и Co (рисунок 3). Величина D такой структуры составила -0,82 мДж/м2. Таким образом, был обнаружен вклад интерфейсного ВДМ в аморфном сплаве. С уменьшением шероховатости и количества интерфейсов растет величина интерфейсного ВДМ в наноструктурах. Аналогичное поведение магнитных свойств и усиление энергии ВДМ также наблюдалось в контрольных образцах наноструктур со сплавом Pt1-хCoх, где оно связывалось в первую очередь с увеличением плотности интерфейсов, ответственных за ВДМ, а также большей атомной плотностью в аморфном сплаве по сравнению со структурой с монослоями

.

Получено, что величина сдвига, частоты и полуширина резонансных линий коррелируют с изменением параметров слоев наноструктуры: для монослоя Со величина D составила -0,44 мДж/м2. Замена слоя Со на сплав PtхCoх разного состава, но той же суммарной толщиной приводит к почти трехкратному росту для структуры S3 c D = -0,56 мДж/м2 (рисунок 4а).

На рисунке 4б приведена температурная зависимость разности частот Df в трёхслойной наноструктуре S3, которая по формуле (1) отражает величину и знак константы ВДМ. Отметим, что наблюдался слабый, практически линейный ход зависимости D(Т) от 80 К до 350 К. Такое поведение согласуется с температурным поведением намагниченности, а также может быть связанно с дополнительным влиянием температурной зависимости константы двухионной анизотропии, то есть отражает вклады различных типов анизотропии в формирование намагниченности и ВДМ в ультратонких металлических пленках, что требует дополнительных исследований.

Значения коэффициента интерфейсного ВДМ (D) для образцов S1-S3 (а) и температурная зависимость константы D для образца S3 (б)

Рисунок 4 - Значения коэффициента интерфейсного ВДМ (D) для образцов S1-S3 (а) и температурная зависимость константы D для образца S3 (б)

4. Заключение

Таким образом, впервые был изучен вклад интерфейсного взаимодействия Дзялошинского-Мории не только на четко выраженных границах слоев наноструктур Pt/Co, но и в аморфном сплаве. Показано, что, варьируя толщину слоёв и состав слоя наноструктуры, можно моделировать величину ВДМ, а также ширину линии ферромагнитного резонанса в структуре Pt/Co, что важно для проектирования СВЧ-устройств. Использование многослойных наноструктур позволило усилить вклад взаимодействия Дзялошинского-Мории. Наблюдаемое усиление в образцах наноструктур со сплавом можно связать с увеличением количества границ и плотности интерфейсов, ответственных за взаимодействия Дзялошинского-Мории, а также, возможно, с влиянием эффекта магнитной близости в Pt за счет большей атомной плотности в аморфном сплаве по сравнению со структурой, содержащей монослой ферромагнитного Со. Кроме того, наноструктуры с усиленным интерфейсным взаимодействием перспективны для изучения различных спин-зависящих эффектов и скирмионов.

Метрика статьи

Просмотров:84
Скачиваний:0
Просмотры
Всего:
Просмотров:84