Rus
Eng
Journals
Submit manuscript
Sign in / Sign up
About journal
Archive
Contacts
Advanced search
Return to article
Нейросетевое моделирование помех в электронных устройствах при воздействии наносекундных импульсов по сети электропитания
Параметры ИНС
DOI:
10.60797/IRJ.2026.167.44.1
Display full size
Download image