Исследование металлических наноструктур методом мандельштам-бриллюэновской спектроскопии

Малоугловая рентгеновская дифракция образцов наноструктур Co/Pt

вертикальной линией указан пик от держателя образцов

DOI:10.60797/IRJ.2025.160s.21.1

Display full sizeDownload image