Вернуться к статье
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ НАНОСТРУКТУРИРОВАННОГО SiO2 ДЛЯ ОЧИСТКИ МОДЕЛЬНЫХ РАСТВОРОВ, СОДЕРЖАЩИХ ТЯЖЕЛЫЕ МЕТАЛЛЫ
Таблица 1 - Рабочая матрица ПФЭ для четырех элементов
№ опыта | Pb2+, мг/л | Cd2+, мг/л | Ni2+, мг/л | Cu2+, мг/л | Zn2+, мг/л | Значение выходной величины Y |
1 | 1 | 1 | 1 | 1 | 1 | Y1 |
2 | 1 | 1 | 1 | 1 | -1 | Y2 |
3 | 1 | 1 | 1 | -1 | 1 | Y3 |
4 | 1 | 1 | 1 | -1 | -1 | Y4 |
5 | 1 | 1 | -1 | 1 | 1 | Y5 |
6 | 1 | 1 | -1 | 1 | -1 | Y6 |
7 | 1 | 1 | -1 | -1 | 1 | Y7 |
8 | 1 | 1 | -1 | -1 | -1 | Y8 |
9 | 1 | -1 | 1 | 1 | 1 | Y9 |
10 | 1 | -1 | 1 | 1 | -1 | Y10 |
11 | 1 | -1 | 1 | -1 | 1 | Y11 |
12 | 1 | -1 | 1 | -1 | -1 | Y12 |
13 | 1 | -1 | -1 | 1 | 1 | Y13 |
14 | 1 | -1 | -1 | 1 | -1 | Y14 |
15 | 1 | -1 | -1 | -1 | 1 | Y15 |
16 | 1 | -1 | -1 | -1 | -1 | Y16 |