Рисунок 1 - Структурная схема аппаратно-программного комплекса для испытаний микросхем:

1 – источник воздействия; 2 – плата с испытываемыми образцами; 3 – блок управляемых нагрузок; 4 – измерительный блок; 5 – персональный компьютер