Вернуться к статье
Использование искусственного интеллекта для обнаружения дефектов в аддитивно-субтрактивном производстве
Рисунок 1 - Общая архитектура системы интеллектуального мониторинга WAAM на основе гибридной модели CNN+LSTM
Рисунок 1 - Общая архитектура системы интеллектуального мониторинга WAAM на основе гибридной модели CNN+LSTM