Вернуться к статье
Модель обеспечения надежности на этапе комплексной отработки изделий ракетно-космической техники
Рисунок 1 - Изменение логарифма вероятности отказа Qk(k) и аппроксимирующей кривой f(k) от числа испытаний
Рисунок 1 - Изменение логарифма вероятности отказа Qk(k) и аппроксимирующей кривой f(k) от числа испытаний