<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
    <!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM/DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.2 20120330//EN" "http://jats.nlm.nih.gov/publishing/1.2/JATS-journalpublishing1.dtd">
    <!--<?xml-stylesheet type="text/xsl" href="article.xsl">-->
<article xmlns:ns0="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" article-type="research-article" dtd-version="1.2" xml:lang="en">
	<front>
		<journal-meta>
			<journal-id journal-id-type="issn">2303-9868</journal-id>
			<journal-id journal-id-type="eissn">2227-6017</journal-id>
			<journal-title-group>
				<journal-title>Международный научно-исследовательский журнал</journal-title>
			</journal-title-group>
			<issn pub-type="epub">2303-9868</issn>
			<publisher>
				<publisher-name>ООО Цифра</publisher-name>
			</publisher>
		</journal-meta>
		<article-meta>
			<article-id pub-id-type="doi">10.60797/IRJ.2025.160s.33</article-id>
			<article-categories>
				<subj-group>
					<subject>Brief communication</subject>
				</subj-group>
			</article-categories>
			<title-group>
				<article-title>Экспериментальное исследование радиационно-защитных свойств композитных материалов на основе галлуазита</article-title>
			</title-group>
			<contrib-group>
				<contrib contrib-type="author" corresp="yes">
					<name>
						<surname>Широнина</surname>
						<given-names>Александра Михайловна</given-names>
					</name>
					<email>shironina-03@mail.ru</email>
					<xref ref-type="aff" rid="aff-4">4</xref>
				</contrib>
				<contrib contrib-type="author">
					<name>
						<surname>Ярков</surname>
						<given-names>Валентин Юрьевич</given-names>
					</name>
					<email>valick99@gmail.com</email>
					<xref ref-type="aff" rid="aff-1">1</xref>
				</contrib>
				<contrib contrib-type="author">
					<contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0001-6397-015X</contrib-id>
					<contrib-id contrib-id-type="rinc">https://elibrary.ru/author_profile.asp?id=573225</contrib-id>
					<name>
						<surname>Ташлыков</surname>
						<given-names>Олег Леонидович</given-names>
					</name>
					<email>otashlykov@list.ru</email>
					<xref ref-type="aff" rid="aff-2">2</xref>
				</contrib>
				<contrib contrib-type="author">
					<name>
						<surname>Воронин</surname>
						<given-names>Илья Павлович</given-names>
					</name>
					<email>ilya_10_voronin@mail.ru</email>
					<xref ref-type="aff" rid="aff-3">3</xref>
				</contrib>
			</contrib-group>
			<aff id="aff-1">
				<label>1</label>
				<institution>Институт реакторных материалов</institution>
			</aff>
			<aff id="aff-2">
				<label>2</label>
				<institution>Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б. Н. Ельцина</institution>
			</aff>
			<aff id="aff-3">
				<label>3</label>
				<institution>Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б. Н. Ельцина</institution>
			</aff>
			<aff id="aff-4">
				<label>4</label>
				<institution>Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б. Н. Ельцина</institution>
			</aff>
			<pub-date publication-format="electronic" date-type="pub" iso-8601-date="2025-10-24">
				<day>24</day>
				<month>10</month>
				<year>2025</year>
			</pub-date>
			<pub-date pub-type="collection">
				<year>2025</year>
			</pub-date>
			<volume>7</volume>
			<issue>160s</issue>
			<fpage>1</fpage>
			<lpage>7</lpage>
			<history>
				<date date-type="accepted" iso-8601-date="2025-08-21">
					<day>21</day>
					<month>08</month>
					<year>2025</year>
				</date>
			</history>
			<permissions>
				<copyright-statement>Copyright: &amp;#x00A9; 2022 The Author(s)</copyright-statement>
				<copyright-year>2022</copyright-year>
				<license license-type="open-access" xlink:href="http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/">
					<license-p>
						This is an open-access article distributed under the terms of the Creative Commons Attribution 4.0 International License (CC-BY 4.0), which permits unrestricted use, distribution, and reproduction in any medium, provided the original author and source are credited. See 
						<uri xlink:href="http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/">http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/</uri>
					</license-p>
					.
				</license>
			</permissions>
			<self-uri xlink:href="https://research-journal.org/archive/10-160-2025s-october/10.60797/IRJ.2025.160s.33"/>
			<abstract>
				<p>В данной статье подробно рассматривается вопрос, касающийся оптимизации методов радиационной защиты для персонала атомной энергетики. Традиционные подходы к обеспечению защиты не всегда удобны в практике эксплуатации, что подчеркивает необходимость разработки новых и более эффективных материалов. Одним из таких инновационных материалов является галлуазит, который представляет собой перспективный композитный материал для использования в качестве радиационной защиты. В рамках работы представлен отчет о проведенном исследовании галлуазита: его химический состав, особенности строения и физические свойства. На основании данных, полученных с помощью программного пакета NIST XCOM, сделан вывод о его возможностях применения в сфере использования атомной энергетики.</p>
			</abstract>
			<kwd-group>
				<kwd>галлуазит</kwd>
				<kwd> композитные материалы</kwd>
				<kwd> радиационная защита</kwd>
				<kwd> рентгеноспектральный анализ</kwd>
			</kwd-group>
		</article-meta>
	</front>
	<body>
		<sec>
			<title>HTML-content</title>
			<p>1. Введение</p>
			<p>Повышение эффективности радиационной защиты персонала требует постоянного совершенствования материалов, используемых на ОИАЭ. Первым и главным требованием, предъявляемым к материалам, предназначенным для защиты, являются их высокие защитные свойства как против нейтронного, так и против гамма-излучения. В связи с этим активно проводятся теоретические и экспериментальные исследования, направленные на совершенствование существующих и разработку новых нетоксичных материалов, обеспечивающих эффективную радиационную защиту [1], [2].</p>
			<p>В настоящее время особое внимание уделяется композитным материалам, где в качестве матрицы могут быть использованы полимеры, цемент или глина. Композитные материалы широко применяются в качестве радиационной защиты благодаря возможности изменять состав наполнителя, их весу, механическим свойствам и хорошей способности ослаблять излучение. Композитный материал представляет собой структуру, состоящую из двух и более компонентов с различными физико-химическими свойствами. Комбинирование этих компонентов позволяет получить материал с новыми, улучшенными характеристиками, отличающимися от свойств исходных составляющих. Путем варьирования состава, пропорций компонентов и ориентации наполнителя, можно создавать широкий спектр материалов с заданными свойствами. В большинстве случаев композиты превосходят традиционные материалы и сплавы по механическим характеристикам, что позволяет снизить массу конструкций без потери прочности и других эксплуатационных параметров [3].</p>
			<p>Галлуазит — это уникальный природный слоистый материал, состоящий из алюмосиликатной глины, сформированной в нанотрубки. По своему химическому составу он схож с каолинитом, а его нанотрубки можно представить как свернутые слои каолина. Длина этих трубок варьируется от 0,5 до 1,5 мкм, а их внешний диаметр составляет 50–80 нм. Формирование трубчатой структуры обусловлено различиями в периодах слоев диоксида кремния и оксида алюминия с октаэдрической структурой [4, С. 1227]. Помимо уникальной трубчатой структуры, галлуазит обладает химическими свойствами составляющих его алюмосиликатов. Благодаря своей низкой токсичности он находит применение в качестве экологически безопасных и доступных сорбентов, носителей лекарственных препаратов и материалов для тканевой инженерии. Однако, учитывая его относительно невысокую плотность (2–2,2 г/см3), галлуазит обладает ограниченной способностью ослаблять высокоэнергетические фотоны.</p>
			<p>Целью работы является исследование радиационно-защитных свойств галлуазита в качестве матрицы для композитных материалов. Перспективным направлением использования изделий из галлуазита, как в чистом виде с повышенной плотностью, так и с добавлением различных промышленных отходов, могут стать блоки (кирпичи) для быстровозводимых конструкций радиационной защиты. Эти изделия могут эффективно использоваться для экранирования высокоактивного оборудования в процессе его ремонта и демонтажа, обеспечивая безопасность и защиту персонала атомной энергетики от потенциального радиационного воздействия.</p>
			<p>2. Методы и принципы исследования</p>
			<p>Исследование микроструктуры галлуазита было проведено с помощью микроскопа TESCAN Mira 3 LMU (см. рисунок 1).</p>
			<fig id="F1">
				<label>Figure 1</label>
				<caption>
					<p>Изображение нанотрубок галлуазита, полученное при помощи электронного микроскопа</p>
				</caption>
				<alt-text>Изображение нанотрубок галлуазита, полученное при помощи электронного микроскопа</alt-text>
				<graphic ns0:href="/media/images/2025-08-20/739d4365-902f-456d-ae61-19821708efb1.jpg"/>
			</fig>
			<p>Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) предназначен для детального изучения поверхности материалов, предоставляя изображения с высоким разрешением и информацию о составе, структуре и других характеристиках приповерхностных слоев. СЭМ формирует изображение путем сканирования поверхности образца сфокусированным электронным пучком. Этот метод особенно эффективен для анализа трехмерных электронно-плотных образцов. С помощью СЭМ можно исследовать форму и морфологию поверхности частиц, анализировать покрытия, шероховатость и волнообразность поверхности, изучать поры и волокна с заданными свойствами, при этом увеличения варьируются от 4 до 10⁶ раз, а ускоряющее напряжение — от 200 В до 30 кВ. Использование катода Шоттки с высокой яркостью обеспечивает получение изображений с высоким разрешением, отличной контрастностью и низким уровнем шума [5].</p>
			<p>По 5 полученным спектрам были определены усредненные значения элементов химического состава. Галлуазит состоит из 40.28% кислорода, 27,25% алюминия, 29,72% кремния, 1,27% калия и 1,48% железа (см. рисунок 2).</p>
			<fig id="F2">
				<label>Figure 2</label>
				<caption>
					<p>Карта распределения химических элементов в составе галлуазита</p>
				</caption>
				<alt-text>Карта распределения химических элементов в составе галлуазита</alt-text>
				<graphic ns0:href="/media/images/2025-08-20/3f1aa4fb-0517-4c6f-a8b6-8348b7f52fdf.png"/>
			</fig>
			<p>Были изготовлены 4 образца из галлуазита с добавлением 10% эпоксидной смолы и 0%, 10%, 20%, 40% металлических отходов (см. рисунок 3). Образцы были подвергнуты процессу прессования, который осуществлялся под давлением 114,24 МПа [6]. Прессование было направлено на значительное повышение их плотности, что, в свою очередь, должно было улучшить физические и механические характеристики материала. Прессование помогло более равномерно распределить структуру образцов, что положительно сказалось на их общей прочности и устойчивости к внешним воздействиям.</p>
			<fig id="F3">
				<label>Figure 3</label>
				<caption>
					<p>Образцы из галлуазита с различным содержанием металлических отходов</p>
				</caption>
				<alt-text>Образцы из галлуазита с различным содержанием металлических отходов</alt-text>
				<graphic ns0:href="/media/images/2025-08-20/4e875e0b-c29a-4f17-ba63-dd4c3eb9bdb2.png"/>
			</fig>
			<p>Плотность измеряли с помощью плотномера MH-300A. Плотномер MH-300A — экономичный цифровой прибор с диапазоном измерения с 0,01 г до 300 г. Благодаря использованию метода Архимеда плотномер напрямую может точно показывать плотность исследуемого образца. Погрешность измерения находится в пределах ±0,01 г/см3.Для теоретической оценки экранирующих свойств материала, а именно массового коэффициента ослабления, был применен программный комплекс NIST XCOM. В основе XCOM лежит база данных сечений взаимодействия фотонов, разработанная Национальным институтом стандартов и технологий США (NIST). XCOM позволяет рассчитать полные и парциальные сечения различных процессов взаимодействия фотонов с веществом, включая некогерентное и когерентное рассеяние, фотоэлектрическое поглощение, а также образование электрон-позитронных пар в поле атомного ядра и электронов [7].</p>
			<p>В таблице 1 приведены квантово-теоретические модели, использованные для определения сечений вышеупомянутых процессов.</p>
			<table-wrap id="T1">
				<label>Table 1</label>
				<caption>
					<p>Теоретические модели, используемые в базе данных XCOM</p>
				</caption>
				<table>
					<tr>
						<td>Механизм взаимодействия</td>
						<td>Модели</td>
					</tr>
					<tr>
						<td>Некогерентное рассеяние</td>
						<td>[8]</td>
					</tr>
					<tr>
						<td>Когерентное рассеяние</td>
						<td>[9]</td>
					</tr>
					<tr>
						<td>Фотоэлектрический эффект</td>
						<td>&gt; 1,5 МэВ Полуэмпирическое уравнение, рассчитанное Праттом</td>
					</tr>
					<tr>
						<td>Образование пар</td>
						<td>[11]</td>
					</tr>
				</table>
			</table-wrap>
			<p>3. Основные результаты</p>
			<p>Массовый коэффициент ослабления был получен с помощью программного пакета NIST XCOM. Далее по формулам рассчитывался линейный коэффициент ослабления (см. рисунок 4) и толщина слоя половинного ослабления (см. рисунок 5).</p>
			<p>Линейный коэффициент ослабления μ зависит от энергии гамма-излучения, атомного номера Z и плотности ρ поглотителя. Гамма-кванты взаимодействуют, в основном, с атомными электронами, следовательно, коэффициент ослабления должен быть пропорционален плотности электронов Р, которая пропорциональна объемной плотности поглощающего материала.</p>
			<p>Линейный коэффициент ослабления рассчитывался по формуле:</p>
			<code>[LATEX_FORMULA]$\mu=\mu_m \cdot \rho$[/LATEX_FORMULA]</code>
			<p>где [LATEX_FORMULA]$\mu_m$[/LATEX_FORMULA] — массовый коэффициент ослабления образца,</p>
			<p>— плотность образца.</p>
			<p>Стоит также отметить, что одной из важных характеристик защитных материалов является толщина половинного ослабления [LATEX_FORMULA]$x_{1 / 2}$[/LATEX_FORMULA]. Данная характеристика показывает, какая должна быть толщина слоя ослабляющего материала, чтобы обеспечить снижение интенсивности гамма-излучения в два раза.</p>
			<p>Слой половинного ослабления рассчитывался по формуле:</p>
			<code>[LATEX_FORMULA]$\mathrm{x}_{1 / 2}=\frac{\ln (2)}{\mu}$[/LATEX_FORMULA]</code>
			<fig id="F4">
				<label>Figure 4</label>
				<caption>
					<p>Зависимость линейного коэффициента ослабления от концентрации металлических отходов</p>
				</caption>
				<alt-text>Зависимость линейного коэффициента ослабления от концентрации металлических отходов</alt-text>
				<graphic ns0:href="/media/images/2025-08-20/3b8645c0-2ee7-405e-92de-fc001519b6c1.png"/>
			</fig>
			<fig id="F5">
				<label>Figure 5</label>
				<caption>
					<p>Зависимость толщины слоя половинного ослабления от концентрации металлических отходов</p>
				</caption>
				<alt-text>Зависимость толщины слоя половинного ослабления от концентрации металлических отходов</alt-text>
				<graphic ns0:href="/media/images/2025-08-20/60410b97-768e-44f6-bc22-9aaf263dc48a.png"/>
			</fig>
			<p>4. Заключение</p>
			<p>В ходе проведенных исследований был получен химический состав галлуазита, который включает в себя преимущественно легкие элементы. Эти элементы, несмотря на свою широкий спектр использования в различных областях, обеспечивают недостаточные экранирующие свойства. Их большой удельный объем и низкая плотность не позволяют им эффективно поглощать радиоактивное излучение и использоваться в качестве радиационной защиты. Поэтому для повышения радиационно-защитных свойств галлуазита, он был использован в качестве матрицы с заполнителем из металлических отходов. Также образцы подвергались прессованию для повышения из плотности. Эти меры привели к значительному улучшению защитных характеристик. При увеличении концентрации металлических отходов линейный коэффициент ослабления увеличился на 26%. В то же время толщина слоя половинного ослабления изменилась с 5,22 см до 4,14 см.</p>
		</sec>
		<sec sec-type="supplementary-material">
			<title>Additional File</title>
			<p>The additional file for this article can be found as follows:</p>
			<supplementary-material xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" id="S1" xlink:href="https://doi.org/10.5334/cpsy.78.s1">
				<!--[<inline-supplementary-material xlink:title="local_file" xlink:href="https://research-journal.org/media/articles/21150.docx">21150.docx</inline-supplementary-material>]-->
				<!--[<inline-supplementary-material xlink:title="local_file" xlink:href="https://research-journal.org/media/articles/21150.pdf">21150.pdf</inline-supplementary-material>]-->
				<label>Online Supplementary Material</label>
				<caption>
					<p>
						Further description of analytic pipeline and patient demographic information. DOI:
						<italic>
							<uri>https://doi.org/10.60797/IRJ.2025.160s.33</uri>
						</italic>
					</p>
				</caption>
			</supplementary-material>
		</sec>
	</body>
	<back>
		<ack>
			<title>Acknowledgements</title>
			<p/>
		</ack>
		<sec>
			<title>Competing Interests</title>
			<p/>
		</sec>
		<ref-list>
			<ref id="B1">
				<label>1</label>
				<mixed-citation publication-type="confproc">Киселёва М. Ф. МКРЗ. Публикация 103 Международной Комиссии по радиационной защите / М. Ф. Киселёва , Н. К. Шандалы — Москва: ООО ПКФ «Алана», 2009. — 344 с.</mixed-citation>
			</ref>
			<ref id="B2">
				<label>2</label>
				<mixed-citation publication-type="confproc">Sayyed M. I. Enhancement of the Shielding Capability of Soda–Lime Glasses with Sb2O3 Dopant: A Potential Material for Radiation Safety in Nuclear Installations / M. I. Sayyed, K. A. Mahmoud, O. L. Tashlykov // Applied Sciences (Switzerland). — 2021. — 1. — с. 1–15. [in English]</mixed-citation>
			</ref>
			<ref id="B3">
				<label>3</label>
				<mixed-citation publication-type="confproc">Вселенная композитов // Вестник атомпрома. — URL: https://atomvestnik.ru/2024/04/01/vselennaja-kompozitov/?ysclid=m59r0r9ts0580476134 (дата обращения: 29.12.24)</mixed-citation>
			</ref>
			<ref id="B4">
				<label>4</label>
				<mixed-citation publication-type="confproc">Lvov Y. Halloysite Clay Nanotubes for Loading and Sustained Release of Functional Compounds / Y. Lvov, W. Wang, L. Zhang // Advanced Materials. — 2016. — 6. — с. 1227–1250. [in English]</mixed-citation>
			</ref>
			<ref id="B5">
				<label>5</label>
				<mixed-citation publication-type="confproc">TESCAN Mira 3 LMU // Политех. — URL: https://design4amlab.spbstu.ru/tescan_mira_3_lmu (дата обращения: 29.12.24)</mixed-citation>
			</ref>
			<ref id="B6">
				<label>6</label>
				<mixed-citation publication-type="confproc">Широнина А. М. . Улучшение радиационно-защитных свойств диатомитовых глинистых материалов при воздействии давления / А. М. Широнина, И. П. Воронин, К. А. Г. Махмуд, О. Л. Ташлыков // Энергетика и автоматизация в современном обществе; — Санкт-Петербург: Санкт-Петербургский государственный университет промышленных технологий и дизайна, 2023.</mixed-citation>
			</ref>
			<ref id="B7">
				<label>7</label>
				<mixed-citation publication-type="confproc">Berger K. O. M. J. XCOM: Photon Cross Sections Database / K. O. M. J. Berger, J. H. Hubbell, S. M. Seltzer // NIST. Physical measurement laboratory. — 2010 — URL: https://www.nist.gov/pml/xcom-photon-cross-sections-database (дата обращения: 30.07.2025) DOI: 10.18434/T48G6X. [in English]</mixed-citation>
			</ref>
			<ref id="B8">
				<label>8</label>
				<mixed-citation publication-type="confproc">Hubbell J. H. Atomic form factors, incoherent scattering functions, and photon scattering cross sections / J. H. Hubbell, Wm. J. Veigele, E. A. Briggs // Journal of Physical and Chemical Reference Data. — 1975. — 3. — с. 471–538. [in English]</mixed-citation>
			</ref>
			<ref id="B9">
				<label>9</label>
				<mixed-citation publication-type="confproc">Hubbell J. H. Relativistic atomic form factors and photon coherent scattering cross sections / J. H. Hubbell, I. O. Verbo // Journal of Physical and Chemical Reference Data. — 1979. — 1. — с. 69–106. [in English]</mixed-citation>
			</ref>
			<ref id="B10">
				<label>10</label>
				<mixed-citation publication-type="confproc">Scofield J. H. Physics theoretical photoionization cross sections from 1 to 1500 keV: UCRL-51326 / J. H. Scofield. — Livermore, California, 1973. — 65 p.</mixed-citation>
			</ref>
			<ref id="B11">
				<label>11</label>
				<mixed-citation publication-type="confproc">Hubbell J. H. Pair, Triplet, and Total Atomic Cross Sections (and Mass Attenuation Coefficients) for 1 MeV‐100 GeV Photons in Elements Z =1 to 100 / J. H. Hubbell, H. A. Gimm, I. O. Verbo // Journal of Physical and Chemical Reference Data. — 1980. — 4. — с. 1023–1148. [in English]</mixed-citation>
			</ref>
		</ref-list>
	</back>
	<fundings/>
</article>