Return to article
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ НАНОСТРУКТУРИРОВАННОГО SiO2 ДЛЯ ОЧИСТКИ МОДЕЛЬНЫХ РАСТВОРОВ, СОДЕРЖАЩИХ ТЯЖЕЛЫЕ МЕТАЛЛЫ
Таблица 1 - Значения оптической плотности модельных растворов на 24-ый день эксперимента
24 дня SiO2 | 540 nm | 540 nm | 540 nm | |
Опыт | А1 | А2 | А3 | Аср |
1 | 0,357 | 0,358 | 0,357 | 0,357 |
2 | 0,216 | 0,215 | 0,216 | 0,216 |
3 | 0,239 | 0,240 | 0,239 | 0,239 |
4 | 0,141 | 0,142 | 0,141 | 0,141 |
5 | 0,564 | 0,566 | 0,565 | 0,565 |
6 | 0,201 | 0,202 | 0,201 | 0,201 |
7 | 0,298 | 0,299 | 0,299 | 0,299 |
8 | 0,237 | 0,237 | 0,239 | 0,238 |
9 | 0,309 | 0,309 | 0,310 | 0,309 |
10 | 0,177 | 0,179 | 0,175 | 0,177 |
11 | 0,208 | 0,209 | 0,207 | 0,208 |
12 | 0,120 | 0,121 | 0,122 | 0,121 |
13 | 0,470 | 0,469 | 0,470 | 0,470 |
14 | 0,273 | 0,271 | 0,272 | 0,272 |
15 | 0,358 | 0,359 | 0,358 | 0,358 |
16 | 0,209 | 0,208 | 0,209 | 0,209 |