ИСПОЛЬЗОВАНИЕ НАНОСТРУКТУРИРОВАННОГО SiO2 ДЛЯ ОЧИСТКИ МОДЕЛЬНЫХ РАСТВОРОВ, СОДЕРЖАЩИХ ТЯЖЕЛЫЕ МЕТАЛЛЫ
Таблица 1 - Вычисление дисперсий среднего для значений оптической плотности серии экспериментов (24 дня)
Sj2 | Sj | Sx | εp | Δ |
3,333E-07 | 5,774E-04 | 1,443E-04 | 4,590E-04 | 0,128 |
3,333E-07 | 5,774E-04 | 1,443E-04 | 4,590E-04 | 0,213 |
3,333E-07 | 5,774E-04 | 1,443E-04 | 4,590E-04 | 0,192 |
3,333E-07 | 5,774E-04 | 1,443E-04 | 4,590E-04 | 0,325 |
1,000E-06 | 1,000E-03 | 2,500E-04 | 7,950E-04 | 0,141 |
3,333E-07 | 5,774E-04 | 1,443E-04 | 4,590E-04 | 0,228 |
3,333E-07 | 5,774E-04 | 1,443E-04 | 4,590E-04 | 0,154 |
1,333E-06 | 1,155E-03 | 2,887E-04 | 9,180E-04 | 0,386 |
3,333E-07 | 5,774E-04 | 1,443E-04 | 4,590E-04 | 0,148 |
4,000E-06 | 2,000E-03 | 5,000E-04 | 1,590E-03 | 0,898 |
1,000E-06 | 1,000E-03 | 2,500E-04 | 7,950E-04 | 0,382 |
1,000E-06 | 1,000E-03 | 2,500E-04 | 7,950E-04 | 0,657 |
3,333E-07 | 5,774E-04 | 1,443E-04 | 4,590E-04 | 0,098 |
1,000E-06 | 1,000E-03 | 2,500E-04 | 7,950E-04 | 0,292 |
3,333E-07 | 5,774E-04 | 1,443E-04 | 4,590E-04 | 0,128 |
3,333E-07 | 5,774E-04 | 1,443E-04 | 4,590E-04 | 0,220 |