Return to article
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ НАНОСТРУКТУРИРОВАННОГО SiO2 ДЛЯ ОЧИСТКИ МОДЕЛЬНЫХ РАСТВОРОВ, СОДЕРЖАЩИХ ТЯЖЕЛЫЕ МЕТАЛЛЫ
Рисунок 1 - Сравнение 8, 16 и 24 дневных экспериментальных кривых проб модельных растворов с нанопорошком SiO2 и проб чистого Pb2+ с SiO2 при λ = 540 нм